IC芯片完成加工制造工序后，需要一一進行測試和分類，芯片分類存放有利于芯片的合理使用。測試分選機是將已經通過預定制造工序制造的半導體裝置電連接至測試器并且根據測試結果將半導體裝置分類的設備。

    最初，人們對芯片測試后，是靠人工分類放置的，不僅效率低，還容易發生錯誤。現有技術中已有自動測試分選機，例如專利公開號：CN 102698969 A,公開日：2012年10月03日，發明創造名稱為：一種IC芯片自動測試分選機，該申請案公開了一種IC芯片自動測試分選機，包括可將堆積的實料盤逐一分離的上料實托盤分離輸入裝置，和料船模組裝置。

    包括受控于伺服電機左右擺動的用于放置待測芯片的左料船和用于放置測試后芯片的右料船；用于放置右料船中測試合格芯片的合格品分類收集模組，以及用于放置測試不合格芯片的次品分類收集模組。將待測試和分選的滿托盤芯片經過托盤分離輸入裝置自動輸入到位，經上料抓手平臺裝置逐一轉送到料船。

    測試抓手組合模組裝置將左料船上待測芯片準確吸住并移入測試位接受測試，再放回右料船進一步將測試后的芯片送到分類選方位，由下料分選抓手平臺裝置根據測試結果分類放入相應的成品托盤或者次品托盤中，滿盤后再有序送出機外。但該申請案的測試分選機和現有技術中大多數測試分選機一樣，測試分選品種規格單一，即一種機器只能測試分選一種芯片，不能滿足當今芯片品種規格多、分類細的要求。綜上所述，如何克服現有IC芯片測試分選設備測試分選的產品規格單一的缺陷，是現有技術中亟需解決的技術問題。